偏光顯微鏡與普通顯微鏡的主要區(qū)別在偏光顯微鏡上裝有兩人光元件，即起偏振鏡和檢偏振鏡，因此偏光顯微鏡的構(gòu)造比生物顯微鏡要復(fù)雜一些。偏光顯微鏡就是借著這兩只偏振鏡的作用而實(shí)現(xiàn)對(duì)晶體光學(xué)特性的分析和檢驗(yàn)的目的。

偏光顯微鏡在檢驗(yàn)晶體時(shí)，是把晶體放在起偏振鏡和檢偏振鏡之間的載物臺(tái)上，其起偏振鏡置于聚光鏡下面，而檢偏振鏡置于物鏡上面，在鏡檢前，兩偏振鏡的振動(dòng)面應(yīng)互為垂直(正交)，則視場(chǎng)是黑暗的利用光的偏振這種特殊性質(zhì)，應(yīng)用于顯微成象技術(shù)中，促進(jìn)了晶體光學(xué)迅速地發(fā)展。利用晶體光學(xué)的原理和方法來研究礦物、巖石、熔渣、耐火材料等既方便又精確。

因此廣泛應(yīng)用于地質(zhì)研究和金相研究中。利用偏光顯微鏡觀察基本上有兩種方法:

①用小孔徑照明光束來照明物體，此時(shí)可以認(rèn)為所有的光束都是與物體平面垂直，可用目鏡直接觀察物體所成的像。

②用大孔徑會(huì)聚光束來照明物體，此時(shí)在物鏡的出瞳將產(chǎn)生表示被觀察物體性質(zhì)的干涉現(xiàn)象，利用一種叫做“貝爾特蘭透鏡”的補(bǔ)助鏡和目鏡觀察在物鏡出瞳處形成的干涉圖像。